粉體行業(yè)在線展覽
粉體行業(yè)在線展覽
直接聯(lián)系
上海儀電分析儀器有限公司
上海
面議
386
L系列掃描型比例雙光束紫外可見分光光度計，采用7英寸彩色觸摸屏，計算機(jī)采用ARM系統(tǒng)，可配置專用打印機(jī)，實時打印測量數(shù)據(jù)。配要2個USB口，可通過PC上專用的上層軟件對樣品進(jìn)行測試。
| 波長范圍： | 190nm～1100nm |
| 波長**允許誤差： | ±0.3nm |
| 波長重復(fù)性： | ≤0.2nm |
| 透射比測量范圍： | 0～200%T |
| 吸光度測量范圍： | -0.301 A～4.000A |
| 透射比**允許誤差： | ±0.3%T |
| 透射比重復(fù)性： | ≤0.15%T |
| 漂移： | ≤0.001A/h（開機(jī)2h后，500nm處） |
| 基線平直度： | ±0.0015A（200 nm～1050nm） |
| 雜散光： | ≤0.03% T |
| 噪聲： | 100%（T）線噪聲≤0.15%（T）；0%（T） 線噪聲≤0.1%（T） |
| 掃描速度： | 快 中 慢（三檔） |
| *小光譜帶寬： | 2nm |
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細(xì)資料)
火焰光度計
Metorex C100型
ARL? PERFORM'X
UV9600D
全譜直讀光譜儀
