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OL750機械掃描式分光輻射度計

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光傲科技股份有限公司

美國

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382

產(chǎn)品介紹

OL750多功能光譜輻射測量系統(tǒng)可用于從紫外、可見到中遠紅外光譜范圍的高精度光學輻射測量。OL750采用模塊化的方式,可以耦合各種可選的擴展附件以及功能強大的操作軟件,滿足使用者具體的測量要求并且便于將來的功能擴展。OL750S(單光柵單色儀)和OL750D(雙光柵單色儀)都可以通過選擇不同 可選條目和附件實現(xiàn)從200nm到30μm波長范圍內的測量。

應用范圍:

光源光譜分析、探測器光譜響應、漫反射光譜反射率、鏡面反射光譜反射率和光譜透射率等。

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