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JF-2型勞厄晶體分析儀能夠提供穩(wěn)定的X射線光源,特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)流調(diào)壓,從而獲得一個強(qiáng)而穩(wěn)定的射線光源.該機(jī)射線發(fā)生器功率大,整機(jī)穩(wěn)定性高,操作簡單,可靠性強(qiáng),防護(hù)完善,可與各種射線照相機(jī)一起構(gòu)成X射線晶體分析儀,或用于其他用途的X射線光源.，廣泛用于冶金,機(jī)械,電子,化工,地質(zhì),,能源,等科研、企業(yè)、大專院校.
  該X射線晶體分析儀，主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質(zhì)定性、測定點陣參數(shù)、測定殘余應(yīng)力等。

  主要參數(shù)：