粉體行業(yè)在線展覽
TESCAN S8000
200-500萬元
TESCAN S8000
5832
1-2,000,000x
特別適合對電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。
二次電子圖象分辨率 | 0.9nm@15kV | 放大倍數(shù) | 1-2,000,000x |
電子光學(xué) | BrightBeam? 電子光學(xué)鏡筒 | 樣品臺 | 超大樣品臺選配 |
探測器 | 多探測器系統(tǒng) | 背散射電子圖像分辨率 | 2.0nm@30kV(低真空模式) |
加速電壓 | 50V-30kV |
產(chǎn)地屬性 | 歐洲 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
價格范圍 | 200萬-250萬 |
全新設(shè)計(jì)的S8000超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供****的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗(yàn)。
新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力
**配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,物鏡無磁場外泄,實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
配置4個新一代探測器,可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面
配置大型樣品室,有超過20個擴(kuò)展接口,為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,如EDS、EBSD、CL、EBL,并**實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用
創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒,使電鏡擁有更加出色的超高分辨率
TESCAN S8000配置了**的BrightBeam?鏡筒,實(shí)現(xiàn)了無磁場超高分辨成像,可以**化的實(shí)現(xiàn)各種分析,包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率,特別適合對電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。
另外,EquiPower?透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。
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BrightBeam?電子光學(xué)鏡筒及探測器系統(tǒng)
(A)Axial detector (In-Beam)
(B)Multidetector (In-Beam)
(C)E-T detector (In-Chamber)
(D)Retractable BSE (In-Chamber)
配備**的多種探測器,更好的表面靈敏度和對比度
S8000可配置**的多種探測器,包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector,可選擇不同角度和不同能量來收集信號,體現(xiàn)更多種類的信息,同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。
VEGA 3 XMU/XMH
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
MAIA3
MAIA3
RISE
VEGA3 InduSEM
GAIA3
VEGA 3 Easyprobe
VEGA3 Small Base
MIRA3
TESCAN S8000
場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH