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Quattro-環(huán)境掃描場發(fā)射電鏡

Quattro SEM為具有獨特環(huán)境真空功能的極靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進行。

    Quattro的場發(fā)射電子槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，通過不同的探測器選項，可以調(diào)節(jié)不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。來自多個多個探測器和探測器區(qū)分的圖像可以同步采集和顯示，使得單次掃描即可獲得樣品信息，從而降低電子束敏感樣品的束曝光并實現(xiàn)真正額動態(tài)試驗。Quattro的三種真空模式使得系統(tǒng)**靈活性，可以容納*廣泛的樣品類型，無論樣品導電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下，均可獲得可靠的分析結果。Quattro獨特的硬件有用戶向?qū)еС?，不僅可以指導操作者，還可以直接進行交換，輕松縮短結果獲取時間。

金屬及合金、斷口、焊點、拋光斷面、磁性及超導材料
陶瓷、復合材料、塑料
薄膜/涂層
地質(zhì)樣品斷面、礦物
軟材料：聚合物、藥物、濾膜、凝膠、生物組織、植物材料
顆粒、多孔材料、纖維
水合/脫水/濕潤/接觸角分析
結晶/相變
氧化/催化
材料生成
拉伸（伴隨加熱或冷卻）