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Scios 2 DualBeam FIB雙束電鏡

    Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的*廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。 Scios 2 DualBeam系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級研究和分析的理想解決方案。
    Scios 2 DualBeam可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統(tǒng)配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質(zhì)量、全自動地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結(jié)構(gòu)信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統(tǒng)可在*廣泛的工作條件下提供出色的納米級細(xì)節(jié)。Scios 2 DualBeam可幫助所有經(jīng)驗水平的用戶更快、更輕松的獲得高質(zhì)量、可重復(fù)的結(jié)果，此外，系統(tǒng)專為材料科學(xué)中**挑戰(zhàn)的材料微觀表征需求而設(shè)計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實環(huán)境的工作條件下進(jìn)行樣品表征。