粉體行業(yè)在線展覽
EM-30掃描電子顯微鏡
面議
Coxem
EM-30掃描電子顯微鏡
1730
EM-30高分辨率臺(tái)式掃描電鏡打破了傳統(tǒng)臺(tái)式掃描電鏡采用BSD探測(cè)器成像的局限性,利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技
術(shù), 采用大型掃描電鏡成像原理, 使用二次電子探測(cè)器作為基礎(chǔ)成像單元, 從而可以獲得更高的分辨率
(<5nm),是真正意義上的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡。
COXEM(庫(kù)賽姆)EM-30特點(diǎn):
使用方便、體積小巧、對(duì)環(huán)境要求低;
◆ 分辨率高,大樣品倉(cāng);
◆ 自動(dòng)馬達(dá)臺(tái);
◆ 加速電壓范圍廣;
◆ 可選配附件多:EDS、冷臺(tái);
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美國(guó)Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH