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一、概述

SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。

■ 超高性價比光學橢偏測量解決方案；

■ 緊湊集成化設計，**用戶操作體驗；

■ 一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷；

■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力

二、產(chǎn)品特點

■ 采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；

■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；

■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

三、參數(shù)規(guī)格

四、產(chǎn)品應用

廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。