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FEI掃描電鏡SEM Helios NanoLab

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上海澳信檢測技術有限公司

美國

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產品介紹

Helios NanoLab 的材料科學應用

在材料科學領域,研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設備的質量。為了實現技術進步,在納米量級了解結構和成分細節(jié)至關重要。Helios NanoLab 設計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察,讓研究人員能夠觀測樣本*微小的細節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備**質量的樣本。此外,如果研究工作包括開發(fā) MEMS 或 NEMS 器件,也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。

Helios NanoLab 的電子工業(yè)應用

Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺,既能以極高的效率制備 TEM 樣本,又能開展高性能低電壓成像以分析高級邏輯和存儲器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個配置,效率極高,并且是面向實驗室和近生產環(huán)境的低每樣本成本半導體分析工作流的關鍵組成部分。

Helios NanoLab 的生命科學應用

要想在三維背景下了解生物事件,就必須采用專用的成像解決方案,而且這些成像解決方案應能以極高的分辨率呈現極小的細節(jié),從而揭示出復雜網絡的超微結構和空間結構。Helios NanoLab 具有**的 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力,還配備了高精度壓電工作臺,堪稱小型 DualBeam 平臺的**之選。出色的成像能力,輔以透鏡內和柱內檢測器提供的尖端高對比度檢測技術,能夠實現真正**的對比度。

產品咨詢

FEI掃描電鏡SEM Helios NanoLab

上海澳信檢測技術有限公司

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