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日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS

直接聯(lián)系

深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

日本

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

525

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品詳情

日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS

JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了**加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過(guò)濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

產(chǎn)品規(guī)格:

物鏡極靴*1

超高分辨UHR

高分辨率HR

高傾斜HT

高襯度HC

分辨率

 點(diǎn)分辨率

晶格分辨率

0.17nm

0.1nm

0.19nm

0.1nm

0.21nm

0.1nm

0.26nm

0.14nm

能量分辨率

0.9 eV(零損失FWHM)

加速電壓

300kV,200kV,100kV*2

 *小步長(zhǎng)

 能量位移

100V

**3,000V (以0.2V為步長(zhǎng))

電子槍

 發(fā)射體

ZrO/W(100) 肖特基式

 亮度

≧7×108 A/cm2 ? sr

 真空度

3×10-8Pa

 探針電流

探針直徑為1nm時(shí),電流在0.5nA以上

穩(wěn)定度

 加速電壓

2×10-6/min

 物鏡電流

1×10-6/min

 過(guò)濾器透鏡電流

1×10-6/min

物鏡

 焦距

2.7 mm

3.0 mm

3.5 mm

3.9 mm

 球差系數(shù)

0.6 mm

1.1 mm

1.4 mm

3.2 mm

 色差系數(shù)

1.5 mm

1.8 mm

2.2 mm

3.0 mm

 *小焦距步長(zhǎng)

1.0 nm

1.4 nm

1.5 nm

4.1 nm

束斑尺寸

 TEM 模式

2 ~ 5 nmφ

2 ~ 5 nmφ

7 ~ 30 nmφ

 EDS 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

4 ~ 20 nmφ

 NBD 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

-

 CBD 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

-

電子束衍射

 衍射角(2α)

1.5 t~ 20 mrad

-

 取出角

±10 °

-

倍率

 MAG 模式

×2,500 ~ 1,500,000

×2,000 ~ 1,200,000

×1,500 ~ 1,200,000

 LOW MAG 模式

×100 ~ 3,000

 SA MAG 模式

×8,000 ~ 600,000

×6,000 ~ 500,000

×5,000 ~ 500,000

視野

10eV時(shí)狹縫寬度60mm(底片上)

2eV時(shí)狹縫寬度25mm(底片上)

相機(jī)長(zhǎng)度

 選區(qū)電子衍射

200 ~ 2,000 mm

250 ~ 2,500 mm

400 ~ 3,000 mm

EELS 散射

 能量選擇

 在能量選擇狹縫上

0.85 μm/eV , 300 kV

 底片上

100 ~ 220 μm/eV , 300kV

樣品室

 樣品移動(dòng)范圍 (XY/Z)

2mm/0.2mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

 樣品傾斜角 (X/Y)

±25°/±25°*3

±35°/±30°*3

±42°/±30°*3

±38°/±30°*3

EDS*4

 固體角

0.13 sr

0.09 sr

 取出角

25°

20°

產(chǎn)品特點(diǎn):

· JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了**加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過(guò)濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

· 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過(guò)濾器(omega 過(guò)濾器)

· 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過(guò)濾器內(nèi)置于成像透鏡系統(tǒng),能容易地獲得能量過(guò)濾像和能量損失譜,同時(shí)還能獲得與傳統(tǒng)電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過(guò)濾器的電子光學(xué)系統(tǒng)在設(shè)計(jì)上**程度地減少了圖像畸變,出廠前還將剩余一點(diǎn)的畸變做了*后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機(jī)系統(tǒng)及圖像處理系統(tǒng)(選配件),可以構(gòu)建元素面分布系統(tǒng)及能量損失譜系統(tǒng)。

· 新型控制系統(tǒng)

· 電子槍、電子光學(xué)系統(tǒng)、測(cè)角臺(tái)、抽真空系統(tǒng)等電子顯微鏡基本功能的系統(tǒng)化,實(shí)現(xiàn)了高穩(wěn)定、高性能的控制系統(tǒng)。圖像畫(huà)面和用戶界面 采用Windows ®*1,可以進(jìn)行編程操作和附件的集中控制。

· 新型測(cè)角臺(tái)

· 系統(tǒng)化的新型測(cè)角臺(tái)內(nèi)置壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),使高倍率下的樣品移動(dòng)更加精確。*2.

· *1 : 注意事項(xiàng):Windows是微軟公司在美國(guó)和其他國(guó)家的注冊(cè)商標(biāo)。

*2 : 僅有壓電元件包括在基本單元中,壓電元件的電源為選配件。

產(chǎn)品咨詢

日本JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡JEM-3200FS

深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

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