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ZEISS GeminiSEM 500場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

直接聯(lián)系

卡爾蔡司(上海)管理有限公司.

德國(guó)

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
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457

產(chǎn)品介紹

GeminiSEM 系列產(chǎn)品

高對(duì)比度、低電壓成像的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

為對(duì)任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測(cè)效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

GeminiSEM 500 具有出色的分辨率,在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息,其創(chuàng)新設(shè)計(jì)的NanoVP可變壓力模式,甚至讓您在使用時(shí)擁有在高真空模式下工作的感覺;

更強(qiáng)的信號(hào),更豐富的細(xì)節(jié)

GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息,尤其在低的加速電壓下,在避免樣品損傷的同時(shí)快速地獲取更高清晰度的圖像。

  • 經(jīng)優(yōu)化和增強(qiáng)的Inlens探測(cè)器可高效地采集信號(hào),助您快速地獲取清晰的圖像,并使樣品損傷降至更低;

  • 在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度,二次電子圖像分辨率1 kV達(dá)0.9nm,500 V達(dá)1.0 nm,無需樣品臺(tái)減速即可進(jìn)行高質(zhì)量的低電壓成像,為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細(xì)節(jié)信息;

  • 應(yīng)用樣品臺(tái)減速技術(shù)-(Tandem decel),可在1 kV下獲得高達(dá)0.8nm二次電子圖像分辨率;

  • 創(chuàng)新設(shè)計(jì)的可變壓力模式-NanoVP技術(shù),讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。

洞察產(chǎn)品背后的科技

Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)

Gemini 1類型鏡筒 -延續(xù)創(chuàng)新和發(fā)展

如今,掃描電子顯微鏡(SEM)在低電壓下的高分辨成像能力,已成為其在各項(xiàng)應(yīng)用領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)配置。

低電壓下的高分辨率成像能力,在以下應(yīng)用領(lǐng)域中扮演著尤為重要的角色:

    • 電子束敏感樣品

    • 不導(dǎo)電樣品

    • 獲取樣品極表面的真實(shí)形貌信息

Gemini的革新電子光學(xué)設(shè)計(jì),應(yīng)用高分辨率電子槍模式、Nano-twin lens物鏡(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel樣品臺(tái)減速技術(shù)(選配),有效提高了在低電壓時(shí)的信號(hào)采集效率和圖像襯度。

  • 高分辨率電子槍模式:

    • 縮小30%的出射電子束能量展寬,有效地降低像差;

    • 獲得更小的束斑。

  • Nano-twin lens物鏡:

優(yōu)化靜電場(chǎng)和磁場(chǎng)的復(fù)合功效,在低電壓下具有的更高的分辨率;

提高鏡筒內(nèi)Inlens探測(cè)器在低電壓下的信號(hào)采集效率。

  • Tandem decel樣品臺(tái)減速技術(shù),進(jìn)一步提高對(duì)適用樣品在低電壓甚至極低電壓下的分辨率:

    • Tandem decel減速技術(shù)將鏡筒內(nèi)減速和樣品臺(tái)偏壓減速技術(shù)相結(jié)合,有效地實(shí)現(xiàn)低著陸電壓;

    • 使用1 kV及以下更低電壓時(shí),鏡筒內(nèi)背散射探測(cè)器的檢測(cè)效率獲得更好地增強(qiáng),低電壓下的分辨率得到進(jìn)一步提高。

    • 對(duì)適用的樣品可以加載高達(dá)-5 kV的樣品臺(tái)偏壓,在低電壓下獲得更高質(zhì)量的圖片

    • 優(yōu)化靜電場(chǎng)和磁場(chǎng)的復(fù)合功效,在低電壓下具有的更高的分辨率;

    • 提高鏡筒內(nèi)Inlens探測(cè)器在低電壓下的信號(hào)采集效率。

技術(shù)參數(shù):

基本規(guī)格蔡司 GeminiSEM 500
熱場(chǎng)發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h
加速電壓

0.02 - 30 kV
探針電流

3 pA - 20 nA
(100 nA配置可選)
存儲(chǔ)分辨率

**達(dá)32k × 24k 像素
放大倍率

50 – 2,000,000
標(biāo)配探測(cè)器

鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測(cè)器
樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測(cè)器

可選配的

項(xiàng)目

NanoVP可變壓力模式
高效VPSE探測(cè)器(包含在NanoVP可變壓力選件中)

局部電荷中和器

鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測(cè)器

環(huán)形STEM探測(cè)器(aSTEM 4)

EDS能譜儀

EBSD探測(cè)器(背散射電子衍射)

可訂制特殊功能樣品臺(tái)
環(huán)形背散射電子探測(cè)器
陰極射線熒光探測(cè)器

產(chǎn)品咨詢

ZEISS GeminiSEM 500場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

卡爾蔡司(上海)管理有限公司.

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