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儀器簡介：

FRT 公司(Fries Research & Technology GmbH) 由物理學(xué)博士Dr.Thomas Fries 于1995年創(chuàng)立，位于德國科隆市郊BG高科技園區(qū)， 是生產(chǎn)光學(xué)表面測量儀器的專業(yè)公司. FRT擁有世界先進(jìn)的納米測量技術(shù)和**， 1996年獲得德國創(chuàng)新技術(shù)企業(yè)獎， 1998年和2001年分別成立了FRT美國和FRT瑞士分公司. FRT與強(qiáng)大的伙伴合作，在表面測量領(lǐng)域處于**先鋒. 產(chǎn)品包含非接觸式電子掃描測量儀器系列， 原子力掃描測量顯微鏡系列，超聲波原子力掃描，干涉儀，測量軟件系列和特殊工藝控制測量裝置等， 用于測量面形輪廓，表面粗糙度，表面形貌，薄膜厚度，材料特性等. 測量原理是傳感器掃描非接觸測量， 特點(diǎn)是測量速度快， 納米高精度測量，可測量大口徑和大厚度的零件，排除了損害零件和在零件上留痕跡的風(fēng)險等.

技術(shù)參數(shù)：

●測量范圍：2-140mm

●透鏡厚度測量范圍：2-50mm，**偏差+/-300um

●系統(tǒng)分辨率：1/3200º

主要特點(diǎn)：

●白光色差測量傳感器

●非接觸無損測量

●用于拋光或未拋光的球面、非球面測量

●面形、輪廓、粗糙度測量

●高精密氣浮旋轉(zhuǎn)工作臺，HEIDENHAIN 旋轉(zhuǎn)編碼器