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光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備

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合肥知常光電科技有限公司

安徽

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知常光電

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光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備

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產(chǎn)品介紹

光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備
型號(hào)	LDT-2000-C
測(cè)量波長(zhǎng)	193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶定制波長(zhǎng)
激光脈寬	~10ns
**測(cè)試激光通量	≥100J/cm2
損傷點(diǎn)識(shí)別率	≥95%
樣品尺寸	≤150mm x 150mm(L x W)或客戶定制

光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備(LDT-2000-C)，主要用于測(cè)試光學(xué)元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學(xué)元件的強(qiáng)激光負(fù)載性能，應(yīng)用范圍包括光學(xué)元件激光損傷測(cè)試、體材料激光損傷測(cè)試鍍膜工藝優(yōu)化等。

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光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備

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