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臺(tái)式微型CT掃描儀

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北京佰司特貿(mào)易有限責(zé)任公司

加拿大

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產(chǎn)品介紹

臺(tái)式Micro CT掃描儀--- inCiTe

由滑鐵盧大學(xué)STAR組**技術(shù)創(chuàng)造的世界上很高空間分辨率的直接轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器具有具有 30% 調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF64 cycles/ mm 圖形條件下 10% 檢測(cè)量子效率(DQE)。 KAImaging是滑鐵盧大學(xué)衍生出來的企業(yè),成功開發(fā)了一系列成像產(chǎn)品,包括X射線探測(cè)器---Reveal™,平板探測(cè)器--- Solo 35G,X射線相機(jī)---BrillianSe,以及臺(tái)式Micro CT掃描儀--- inCiTe

產(chǎn)品-1: X射線探測(cè)器---Reveal

Reveal™KA成像公司的便攜式x射線探測(cè)儀,它使骨骼和軟組織在一次x射線照射中沒有運(yùn)動(dòng)偽影。本質(zhì)上,Reveal™的工作原理類似于雙能量探測(cè)器。不同之處在于探測(cè)器能夠通過一次x射線拍攝來分離不同的能級(jí)。KA成像公司獨(dú)特的**技術(shù)的特點(diǎn)是便攜式和可翻新的設(shè)計(jì),能夠同時(shí)捕獲雙能量圖像和非常高的DQE數(shù)字放射成像(DR)圖像。

產(chǎn)品-2: 平板探測(cè)器---Solo 35G

Solo 35G™是一款平板探測(cè)器,它的特點(diǎn)是重量輕,x射線劑量低。改進(jìn)的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)和探測(cè)量子效率(DQE)提供了不妥協(xié)的圖像質(zhì)量。該探測(cè)器還具有快速的傳輸速度,通過天線設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)2秒的圖像傳輸,使更強(qiáng)的WiFi信號(hào)接收。內(nèi)置的無線通信支持IEEE 802.11ac,是國際上的* 快的傳輸速度。

產(chǎn)品-3:X射線相機(jī)---BrillianSe

非晶硒(a-Se) BrillianSe™x射線相機(jī)用于高亮度成像?;旌系?/span>a-Se/CMOS探測(cè)器使用具有高本征空間分辨率的a-Se光導(dǎo)體來直接將x射線光子轉(zhuǎn)換成電荷。然后由低噪聲CMOS有源像素傳感器讀出電子信號(hào)。(APS)。如果不需要首先將x射線光子轉(zhuǎn)換成可見光,就像在基于間接閃爍的方法中那樣,就沒有必要細(xì)化轉(zhuǎn)換層以*小化光散射。BrillianSe提供了一個(gè)結(jié)合高空間分辨率使用8μm像素,偵探和高量子效率(DQE) 110 keV能量。這種組合能夠在低通量和高能量下高效成像,以及基于傳播(無光柵)的在線相位對(duì)比度增強(qiáng),以提高成像低密度材料時(shí)的靈敏度。

產(chǎn)品-4:臺(tái)式Micro CT掃描儀--- inCiTe

KA Imaging的臺(tái)式微型CT掃描儀是市場(chǎng)上第 一 款X射線分析儀采用KA Imaging開發(fā)的新型高空間分辨率硒檢測(cè)器技術(shù)。硒檢測(cè)器的高檢測(cè)效率在低X射線輻射劑量就可進(jìn)行非常高速的采樣。由于效率高,可以在全分辨率下獲得****的體積掃描速度。inCiTe微型CT掃描儀采用基于申請(qǐng)**的傳播相位對(duì)比法成像,可增強(qiáng)通常低X射線吸收的精細(xì)結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。相位對(duì)比法更合適成像低密度材料。此外,InCiTe 微型CT掃描儀配備了高質(zhì)量的微焦X射線源,可實(shí)現(xiàn)****的分辨率。集成的軟件控制和簡(jiǎn)化的用戶界面可實(shí)現(xiàn)高度自動(dòng)化并減少依賴操作員的交互。 inCiTe 微型CT掃描儀的尺寸和重量?jī)?yōu)化用于*小的占用空間,便于運(yùn)輸并方便地集成到實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式工作站中。

inCiTe 微型CT掃描儀適用于生物材料,聚合物復(fù)合材料和其他低密度材料。無論是臨床前成像,無損檢測(cè)(NDT),標(biāo)本射線照相或添加劑制造材料的研究領(lǐng)域都可以從這項(xiàng)新成像技術(shù)中受益。

臺(tái)式MicroCT掃描儀--- inCiTe是首 個(gè)采用KAImaging 開發(fā)的高空間分辨率 a-Se探測(cè)器技術(shù)的商用X射 線CT掃描儀。 a-Se 探測(cè)器的高轉(zhuǎn)換效率可在低X射線輻射劑量下實(shí)現(xiàn)非常高速的采樣?;诟咝?,在全分辨率成像可達(dá)到超高的體積掃描速度。另外,基于傳播的相位對(duì)比法X射線成像能夠達(dá)到幾個(gè)數(shù)量級(jí)的改善低X射線吸收的材料的可檢測(cè)性,同時(shí)沒有類似基于光柵技術(shù)相位對(duì)比法的信號(hào)衰減現(xiàn)象。

獨(dú)特優(yōu)勢(shì)

這一款新型微型CT掃描儀在完備的臺(tái)式系統(tǒng)中具有高效,高分辨率的X射線成像。

• 直接轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器比閃爍體型探測(cè)器高出100倍

• 無光柵實(shí)時(shí)相位對(duì)比法 (phase-contrast)成像

• 高分辨率傳統(tǒng)微CT成像

• 空間分辨率低至0.37 μma

• 快速單次掃描,3.2 mm視野,空間分辨率為0.6 μmb

• 高速處理器和圖像顯示硬件

相位對(duì)比法的優(yōu)勢(shì)

具有低X射線吸收或小吸收梯度的材料在使用常規(guī)X射線成像技術(shù)時(shí)會(huì)導(dǎo)致低對(duì)比度圖像。然而,通過相位對(duì)比法的X射線成像后,靈敏度可大幅提高助于視化這些材料體。我們的相位對(duì)比法技術(shù)是基于X射線束的自由空間傳播,將物平面處的X射線相位變化轉(zhuǎn)換成圖像平面中的X射線強(qiáng)度變化?;趥鞑サ南辔粚?duì)比法X射線成像能夠達(dá)到幾個(gè)數(shù)量級(jí)的改善低X射線吸收的材料的可檢測(cè)性。

實(shí)現(xiàn)檢測(cè)技術(shù)

由滑鐵盧大學(xué)STAR組**技術(shù)創(chuàng)造的世界上* 高 空間分辨率的直接轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器具有具有30%調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)和 64 cycles/mm圖形條件下10%檢測(cè)量子效率(DQE)。

應(yīng)用案例-生物科學(xué)和醫(yī)學(xué)

應(yīng)用案例-材料分析

應(yīng)用案例-無損測(cè)試

技術(shù)規(guī)格

參考文獻(xiàn)

lC. Scott, Hybrid SemiconductorDetectors for High Spatial ResolutionPhase-contrast X-ray Imaging, PhDThesis, U of Waterloo, 2019

K. Karim et al., High DoesEfficiency, Ultra-high Resolution Amorphous Selenium/CMOS Hybrid Digital X-rayImager, IEEE International Electron Devices Meeting, 2015.

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