粉體行業(yè)在線展覽
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀
面議
瑞士萬通
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀
1706
儀器特性及優(yōu)勢
? XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標的無縫轉(zhuǎn)移 |
? 結(jié)實耐用的倉庫或工廠用分析儀 |
? 無需樣品制備,無需試劑,無任何廢棄物 |
? 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀 |
? 熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換,不會影響性能 |
儀器簡介
采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗,您可以大大縮短產(chǎn)品停留時間,使實驗室分析時間極小化。
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實驗室監(jiān)測而設(shè)計的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測量。
有了這種分析儀,可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品,縮短了清理時間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊,該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前,提供無人值守的樣品加溫平衡(可高達 200 °C),提高了實驗室效率。
XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了優(yōu)越的分析性能,加快了定標方法的研發(fā),縮短了實施時間,保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移。
使用先進、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision? 軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成準確的分析。
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