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WITec alpha 300S掃描近場光學顯微鏡

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WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡,在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。

該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節(jié)等自動測試流程,操作非常簡便、直觀。

由于近場光學信號極其微弱,alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管,并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是,UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容,實現近場光譜與成像測量。

關鍵特性:

  • 突破衍射極限的空間光學分辨率(橫向約 60 nm)

  • ****的 SNOM 探針技術

  • 在空氣與液體中均可使用

  • 包含多種原子力與光學顯微鏡模式

  • 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術,基本不需要樣品制備

  • 可升級到關聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

  • 集成三種技術到一臺儀器上:共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM

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WITec alpha 300S掃描近場光學顯微鏡 - 454
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