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CCD 光電性能測量系統(tǒng)又稱CCD成像電子學系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設(shè)備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計及輻射校正設(shè)計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題；同時能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價的標準化和規(guī)范化起到積極推進作用。

技術(shù)指標

• 工作光譜波段：380nm~1000nm

• 光譜分辨率：20nm~40nm

• A/D 量化等級：14bit

• 動態(tài)范圍：80dB

• 測量**值不確定度：低于8%

• 重復(fù)性誤差：不大于3%

測試內(nèi)容

• 飽和輸出電壓（SV)

• 飽和曝光量 （SE)

• 光輻照響應(yīng)度（燈光照明下的R)

• 相對光譜響應(yīng)度 Rs

• 響應(yīng)度非均勻性（PRNU)

• 電荷轉(zhuǎn)移效率（CTE)

• 光譜和白光傳遞函數(shù)（MTF)

• 暗信號 （DS)

• 暗噪聲 （v_NOISE )

• 噪聲等效曝光量（NEE)

• 動態(tài)范圍 （DR)

• 非線性度 （NL)

• 固態(tài)圖片噪聲 （FPN)