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平面元件缺陷檢測設(shè)備
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平面元件缺陷檢測設(shè)備
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平面元件缺陷檢測設(shè)備
產(chǎn)品介紹
平面元件缺陷檢測設(shè)備(AOSI-4000F),主要用于平面光學(xué)元件的全自動外觀質(zhì)量檢測,該設(shè)備自動化程度高、批量上料、自動傳送、智能檢測,根據(jù)檢測結(jié)果智能分選,并生成每個元件的檢測報告。
設(shè)備可生成檢測日志,按照不同的時問周期,根據(jù)元件檢測數(shù)量、缺陷檢測類型比例等條件生成檢測日志觀察生產(chǎn)良率變化,對生產(chǎn)工藝改進做出指導(dǎo)。
平面元件缺陷檢測設(shè)備 | |
型號 | AOSI-4000F |
樣品類型 | 平面元件 |
典型樣品尺寸[1] | Ф5mm-Ф30mm |
**檢測效率 | 2400 pcs/h(@Ф10mm,40/20) |
上下料方式 | 全自動上下料,接口可定制 |
典型檢測標(biāo)準(zhǔn) [2] | 美軍標(biāo)MIL-PRF-13830B |
額定功率 | 6.5KW |
供電電源 | 220V,50Hz |
壓縮空氣 | 0.6MPa-0.8MPa,300L/min |
設(shè)備尺寸[3] | 1800mm x 1500mm x 2080mm |
設(shè)備重量 | 850kg |
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深紫外光學(xué)吸收測量儀
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