粉體行業(yè)在線展覽
面議
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基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測量原理,采用先進(jìn)的矩陣激光點陣掃描方式和探測技術(shù),以及智能化的操作,使得FST2000薄膜應(yīng)力儀特別適合于晶圓類光電薄膜樣品的曲率半徑和應(yīng)力測量。
獨特的雙模掃描模式方便適應(yīng)不同應(yīng)用場景下需求:Mapping不同區(qū)域的薄膜應(yīng)力分布或快速表征樣品整體平均殘余應(yīng)力。
XRD-晶向定位
CVD 真空化學(xué)氣相沉積設(shè)備
自動劃片機
BTF-1200C-RTP-CVD
Gasboard-2060
HSE系列等離子刻蝕機