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飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL

Phenom XL

直接聯(lián)系

復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

荷蘭

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)
參考報(bào)價(jià):

面議

品牌:

飛納

型號(hào):

Phenom XL

關(guān)注度:

11603

樣本:

【下載】

創(chuàng)新點(diǎn):

拉伸臺(tái),顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)

應(yīng)用行業(yè):

粉末冶金

產(chǎn)品介紹

飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2

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Phenom XL (電鏡腔室 100mm x 100mm)具有飛納電鏡系列以下優(yōu)點(diǎn):


  • 超高分辨

    —— 10 nm,**采用長壽命 1500 小時(shí)、高亮度的 CeB6 燈絲

  • 快速成像

    —— 抽真空時(shí)間小于 30 秒

  • 簡易操作

    —— 光學(xué) + 低倍電子導(dǎo)航定位,結(jié)合全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)移動(dòng)觀測位置

  • 直接觀測絕緣體

    —— 低真空設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)不噴金看絕緣體,且不影響燈絲壽命

  • 高度自動(dòng)化

    —— 自動(dòng)聚焦,自動(dòng)調(diào)節(jié)對(duì)比度亮度,拍照簡單快速

  • 放置環(huán)境無特殊要求

    —— 無需獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室,無需超凈間

  • 防震設(shè)計(jì)

    —— 緊湊的一體化設(shè)計(jì),可不用防震臺(tái)擺放在高層


產(chǎn)品參數(shù)

光學(xué)顯微鏡:放大 3-16 倍

電子顯微鏡:200,000 倍

探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器

燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲

分辨率:優(yōu)于 8 nm

放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設(shè)計(jì),可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房

加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)

抽真空時(shí)間:小于 30 秒

能譜儀:可選配能譜儀


同時(shí),Phenom XL 做出了如下改進(jìn),使其在擁有臺(tái)式掃描電鏡操作簡單等特點(diǎn)的前提下,具備大型落地式電鏡的高分辨率、多功能和拓展性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì):

Phenom XL 大樣品室**版可選配所有的拓展功能軟件選件,如 3D 粗糙度重建,纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng),顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng),孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)。


全自動(dòng)顯微平臺(tái)Phenom XL + 拉伸臺(tái)


飛納電鏡此次的新品發(fā)布會(huì)上會(huì)呈現(xiàn)的產(chǎn)品——拉伸臺(tái)。此產(chǎn)品也是飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom XL 一項(xiàng)重大拓展。拉伸臺(tái)是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺(tái)的**特點(diǎn)是,在進(jìn)行應(yīng)力—應(yīng)變力學(xué)定量測試的同時(shí), 利用掃描電鏡的強(qiáng)大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。拉伸臺(tái)可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料(研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料,陶瓷材料等。飛納臺(tái)式掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)能實(shí)現(xiàn) 2N to 1000N 的拉力區(qū)間,拉伸速度可實(shí)現(xiàn) 0.1mm/min 到 15mm/min,滿足幾乎所有領(lǐng)域樣品的原位拉伸觀測。

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飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 拉伸臺(tái)


顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)

顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片,并生成報(bào)告。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù)。憑借遠(yuǎn)超光鏡的放大倍數(shù),顆粒軟件全自動(dòng)化的測量,可以把工業(yè)粉末的設(shè)計(jì)、研發(fā)和品管提升到一個(gè)新臺(tái)階。

借助顆粒系統(tǒng)軟件,用戶可隨時(shí)獲得數(shù)據(jù)。因此,它加快了分析速度,并提高了產(chǎn)品質(zhì)量。


臺(tái)式掃描電鏡在粉末冶金領(lǐng)域的應(yīng)用

1. 粉體形貌、粒度觀察(<10000×,低壓SED)

2. 粉體粒度統(tǒng)計(jì)(使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng))

3. 燒結(jié)件缺陷檢查(使用飛納電鏡軟件-超大視野自動(dòng)全景拼圖)

4. 成品表面質(zhì)量檢查+雜質(zhì)判定(掃描電鏡+能譜)

5. 脫脂前后形貌觀察

產(chǎn)品咨詢

飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL

Phenom XL

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飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL - 11603
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