粉體行業(yè)在線展覽
ParticleX
面議
飛納
ParticleX
6074
ParticleX 主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評估,可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌和成分信息,具體包括:
? 顆粒粒度分布
? 顆粒形貌分析
? 雜質(zhì)成分檢測
? 高分辨率成像
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ),結(jié)合自動控制系統(tǒng)以及強大的數(shù)據(jù)庫系統(tǒng),可以全自動對雜質(zhì)顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,為客戶的研發(fā)以及生 產(chǎn)提供快速、準確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
產(chǎn)品參數(shù)
光學顯微鏡:放大 3-19 倍
電子顯微鏡:200,000 倍
探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器
燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲
分辨率:優(yōu)于 8 nm
放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設(shè)計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時間:小于 30 秒
能譜儀:可選配能譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域
· 全自動汽車零部件清潔度分析
ParticleX 可以監(jiān)控清潔度并識別機動車流體系統(tǒng)中的污染源可降低現(xiàn)場故障率和保修成本。用于磨損碎屑表征的自動化解決方案有助于制造商在生產(chǎn)車間實現(xiàn)清潔度和質(zhì)量控制的新標準。
· 全自動鋰電正負極雜質(zhì)分析
ParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計, 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類,以此判定是哪個生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問題。
· 全自動鋼鐵夾雜物分析
ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現(xiàn)的分析工具。為鋼鐵材料的研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制與評級提供了便利。
· 全自動 3D 打印金屬粉末評估
粉末的尺寸、形狀和化學性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質(zhì)性可能會產(chǎn)生重大影響。ParticleX 可以全自動對顆粒或雜質(zhì)進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
復(fù)納科學儀器 (上海) 有限公司,負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售,提供專業(yè)的技術(shù)支持和測試服務(wù),飛納中國擁有專業(yè)的服務(wù)團隊,提供優(yōu)化的解決方案;在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納在中國已經(jīng)擁有接近 1000 名用戶。
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH