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第六代 Phenom Pro 放大倍數(shù)提升為 350,000 倍，分辨率優(yōu)于 6 nm，30 秒快速得到表面細節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設(shè)計等優(yōu)點。

飛納高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro 可選配豐富的拓展功能選件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（FiberMetric）、孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（PoreMetric）、顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（ParticleMetric）、超大視野拼圖（Auto Image Mapping）、遠程操作等。軟件可以自動采集數(shù)據(jù)、處理圖片。比如，纖維統(tǒng)計測量系統(tǒng)可以自動識別、測量纖維樣品，而大視野拼圖 則自動采集生成高分辨、大視野的樣品全景照片，等等…

除此之外，還有各種各樣的樣品杯可供選擇，這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無論是對于長軸狀樣品，還是生物材料，或者其它種類的材料，總有一款合適的樣品杯可以提供**的解決方案。

Phenom Pro 主要技術(shù)參數(shù)

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片，并生成報告。借助該軟件，用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù)。憑借遠超光鏡的放大倍數(shù)，顆粒軟件全自動化的測量，可以把工業(yè)粉末的設(shè)計、研發(fā)和品管提升到一個新臺階。

借助顆粒系統(tǒng)軟件，用戶可隨時獲得數(shù)據(jù)。因此，它加快了分析速度，并提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

臺式掃描電鏡在粉末冶金領(lǐng)域的應(yīng)用

1. 粉體形貌、粒度觀察（<10000×，低壓 SED）

2. 粉體粒度統(tǒng)計（使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)）

3. 燒結(jié)件缺陷檢查（使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖）

4. 成品表面質(zhì)量檢查+雜質(zhì)判定（掃描電鏡+能譜）

5. 脫脂前后形貌觀察