粉體行業(yè)在線展覽
半導體芯片老化和邏輯測試系統(tǒng)
面議
上海翱晶
半導體芯片老化和邏輯測試系統(tǒng)
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生產(chǎn)廠家:Aehr Test Systems
從工藝到生產(chǎn)的解決方案:
FOX-CP Single Wafer Stepping Test & Burn-In System
FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak Test & Burn-In System
FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak Test & Burn-In System
FOX-P WaferPak Contactors
FOX-P DiePak Carrier
混合激光顯微鏡
半導體襯底和外延
KOH腐蝕爐
平坦度測量儀
晶片晶格畸變應力掃描儀
氮化鎵(GaN)MOCVD系統(tǒng)
碳化硅(SiC)外延爐
高精度全自動減薄機
半導體晶片倒角機
半導體晶片倒角測量儀
半導體芯片老化和邏輯測試系統(tǒng)
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計量系統(tǒng)
數(shù)字式密度計DS7000系列
在線HPXRF檢測設備
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀
YB-JZX小量程自動檢重秤