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多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng)nanoSAQLa

nanoSAQLa

直接聯(lián)系

大塚電子（蘇州）有限公司

江蘇

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

面議

品牌：

大塚電子

型號(hào)：

nanoSAQLa

關(guān)注度：

4563

范圍（量程或細(xì)度）：

產(chǎn)品介紹

特點(diǎn)

只需一臺(tái)，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測(cè)量
低濃度到高濃度都可對(duì)應(yīng)
高速測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
搭載了簡(jiǎn)單的測(cè)量功能 (1鍵測(cè)量)
內(nèi)置非浸泡型的cell block，無(wú)分注夾雜物
搭載溫度梯度功能

測(cè)量范圍（理論值）

粒徑 0.6nm～10μm
濃度范圍 0.00001～40％
溫度范圍 0～90℃*

仕樣

型號(hào)	多檢體NANO粒徑測(cè)量系統(tǒng)
測(cè)量原理	動(dòng)態(tài)光散射法
光源	高出力半導(dǎo)體激光*1
檢出器	高感光度APD
連續(xù)測(cè)量	5檢體
測(cè)量范圍	0.6nm ～ 10μm
對(duì)應(yīng)濃度	0.00001 ～ 40% *2
溫度	0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3
規(guī)格	遵照 ISO 22412：2017
	遵照J(rèn)IS Z 8828：2013
	遵照J(rèn)IS Z 8826：2005
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒度分布解析
	（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）粒度分布疊寫(xiě) 逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍（0.1 ～ 106 nm）分子量計(jì)算功能

*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級(jí)別區(qū)分，本儀器的安全級(jí)別為1級(jí)。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測(cè)量的情況。
　　一次性cell或連續(xù)測(cè)量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對(duì)應(yīng)溫度梯度）

測(cè)量范例