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用于故障分析和大型樣品研究的**納米計量工具

作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款全球*精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準確性，在半導體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚。

*強大全面的分析功能

Park NX20具備****的功能，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。****的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和**。。

即便是**次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業(yè)界*為便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。

為FA和研究實驗室提供精確的形貌測量解決方案

樣品側壁三維結構測量

NX20的創(chuàng)新架構讓您可以檢測樣品的側壁和表面，并測量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所必備的。