粉體行業(yè)在線展覽
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Park NX Hybrid WLI
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韓國(guó)帕克股份有限公司
韓國(guó)
面議
Park
Park NX Hybrid WLI
1435
Park NX-Hybrid WLI
Park NX Hybrid
WLI是有史以來(lái)**款具有內(nèi)置WLI輪廓儀的AFM，用于半導(dǎo)體和相關(guān)制造質(zhì)量保證。例如半導(dǎo)體前端、后端到高級(jí)封裝的過(guò)程控制，以及研發(fā)計(jì)量。它適用于那些需要在大面積上進(jìn)行高吞吐量測(cè)量的設(shè)備，這些設(shè)備可以縮小到具有亞納米分辨率和超高精度的納米級(jí)區(qū)域。
WLI: 白光干涉測(cè)量是一種光學(xué)技術(shù)，它可以對(duì)非常寬的區(qū)域進(jìn)行成像，速度非?？欤瑵M足高吞吐量測(cè)量。
AFM: 原子力顯微鏡是一種掃描探針技術(shù)，即使對(duì)透明材料也能提供*精確的納米級(jí)分辨率測(cè)量。
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Park NX Hybrid WLI
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