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AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測(cè)器

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AMPTEK INC.

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產(chǎn)品介紹

下一代硅漂移探測(cè)器 (Next Generation SDD)

超快型硅漂移探測(cè)器 (Super Fast SDD)

10倍通量 & 不損失任何分辨率

圖1. 能量分辨率和峰化時(shí)間曲線

圖2. 不同峰化時(shí)間條件下超快型硅漂移探測(cè)器的輸出計(jì)數(shù)率和輸入計(jì)數(shù)率的關(guān)系

圖3. 不同峰化時(shí)間條件下超快型硅漂移探測(cè)器的能量分辨率和輸入計(jì)數(shù)率的關(guān)系

圖4. 一秒鐘采集結(jié)果的定量分析1（樣品為316型不銹鋼-NIST 3155）

而以下表格則顯示了圖4中數(shù)據(jù)的定量分析結(jié)果。

圖5. 1.2Mcps輸入計(jì)數(shù)率（ICR）情況下測(cè)量錳（Mn）樣品

圖6. 一秒鐘采集結(jié)果的定量分析2（樣品為焊錫）

更多信息請(qǐng)關(guān)注AMPTEK英文官方網(wǎng)站：。

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AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測(cè)器

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