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REDEFINE PRODUCTIVITY

美 國 Pentagon Technologies QIII 是一款用于測(cè)量和檢測(cè)機(jī)

技術(shù)來實(shí)現(xiàn)量測(cè)的精確性和機(jī)臺(tái)的穩(wěn)定性。人的肉眼很難

看清直徑在 100um 以下的粒子，這些粒子會(huì)快速沉降，

逃避常規(guī)的空氣檢測(cè)從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上，從而

減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性， QIII ST 表面粒

子檢測(cè)器測(cè)量（ 0.1~5um ）的粒子，對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境的控制

，提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用，能夠幫助企業(yè)更

快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。

BENEFITS

? 快速測(cè)量表面顆粒

? 可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

? 通過快速識(shí)別粒子源，減少故障排除時(shí)間

? 可以監(jiān)測(cè)物料，來料，以及Parts上的Particle

? 減少PM的周期

?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

?減少粒子相關(guān)故障