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Semilab SDI體內(nèi)少數(shù)載流子擴(kuò)散長及CV電性檢測設(shè)備

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774

產(chǎn)品介紹

儀器簡介：

應(yīng)用：

◆硅料

◆太陽能

◆集成電路制造等

技術(shù)參數(shù)：

Semilab SDI設(shè)備主要用于硅片體內(nèi)的少數(shù)載流子壽命（擴(kuò)散長）的監(jiān)測及定量定性檢測影響少數(shù)載流子的壽命（擴(kuò)散長）的金屬污染（鐵、銅等）含量。設(shè)備由光路系統(tǒng)、信號(hào)分析及處理系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及自校準(zhǔn)系統(tǒng)（設(shè)備內(nèi)建有標(biāo)準(zhǔn)片）組成。

主要特點(diǎn)：

◆SPV(表面光電壓)- 硅片表面不需要做鈍化處理即可以做少數(shù)載流子壽命測試；

◆Surface Lifetime- 硅片淺層的少數(shù)載流子壽命檢測；

◆Surface Recombination – 硅片的表面復(fù)合測試；

◆SPV(表面光電壓)- 可測試硅片體內(nèi)的Fe及B02的含量；

◆設(shè)備的Multiple wafersize 功能可以兼容測試100mm-300mm的硅片及硅棒。

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