粉體行業(yè)在線展覽
面議
620
飛行時間法(TOF)測量是表征有機半導(dǎo)體材料載流子遷移率的關(guān)鍵,T3000飛行時間測量系統(tǒng)基于
脈沖激光和高速測量電子學(xué)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)飛行時間實驗;有助于載流子遷移率隨溫度變化的研究.
- 有機半導(dǎo)體中的載流子輸運
- 電子/空穴遷移率的測量
- 飛行時間法測量(TOF)
- Dark Injection Transient (DIT)
- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)
- 低溫測量
XRD-晶向定位
CVD 真空化學(xué)氣相沉積設(shè)備
等離子體增強化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)CVD
自動劃片機
BTF-1200C-RTP-CVD
Gasboard-2060
Pentagon Qlll
定制-電漿輔助化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)-詳情15345079037
等離子化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)-PECVD
HSE系列等離子刻蝕機