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Pentagon Qlll 表面微粒子計數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um

Pentagon Qlll

直接聯(lián)系

無錫佐藤精密儀器有限公司

美國

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

90-100萬元

型號:

Pentagon Qlll

關(guān)注度:

187

產(chǎn)品介紹

REDEFINE PRODUCTIVITY

美 國 Pentagon Technologies QIII 是一款用于測量和檢測機

技術(shù)來實現(xiàn)量測的精確性和機臺的穩(wěn)定性。人的肉眼很難

看清直徑在 100um 以下的粒子,這些粒子會快速沉降,

逃避常規(guī)的空氣檢測從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上,從而

減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性, QIII ST 表面粒

子檢測器測量( 0.1~5um )的粒子,對于生產(chǎn)環(huán)境的控制

,提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用,能夠幫助企業(yè)更

快捷的實現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。

BENEFITS

快速測量表面顆粒

可以幫忙控制機臺產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

通過快速識別粒子源,減少故障排除時間

可以監(jiān)測物料,來料,以及Parts上的Particle

減少PM的周期

?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

?減少粒子相關(guān)故障


產(chǎn)品咨詢

Pentagon Qlll 表面微粒子計數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um

Pentagon Qlll

無錫佐藤精密儀器有限公司

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